產(chǎn)品分類
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模擬環(huán)境溫度沖擊測(cè)試設(shè)備可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動(dòng)提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)為蓄熱槽、測(cè)試槽、蓄冷槽三部分,被測(cè)試物品靜止置放于測(cè)試室內(nèi),可選擇2區(qū)或3區(qū)之測(cè)試功能??瑟?dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能。
冷熱沖擊箱是一種用于測(cè)試產(chǎn)品在溫度變化環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性的試驗(yàn)設(shè)備。該設(shè)備可以模擬高溫、低溫和急速溫度變化的條件,從而評(píng)估產(chǎn)品在這些環(huán)境下的耐受能力。
溫沖試驗(yàn)設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)康氖菫榱朔抡娌煌娮訕?gòu)件,在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件,改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變,可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境,縮短測(cè)試時(shí)間,降低測(cè)試費(fèi)用,但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響,產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。
元器件熱沖擊用于測(cè)試電子產(chǎn)品,電子,電器,電子產(chǎn)品,電子元器件,數(shù)碼產(chǎn)品,手機(jī),電腦,太陽能組件等產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在Z短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
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